全國服務咨詢熱線:
17806260618
17806260618
在檢查硅片或微電子系統時，你需要看更多嗎？你想得到與電子顯微鏡相似的清晰詳細的樣本圖像嗎？
觀看這個免費的網絡研討會，了解更多關于強大的成像和對比技術，可以提高您的檢查性能。您將了解如何克服分辨率標準，而不需要浸油或轉移到SEM，以實現您想要的檢測結果。
網絡研討(tao)會錄音有英文和德文兩(liang)種版本。
強大的成像和對(dui)(dui)比技術(shu)背后的基礎原理(li)，將(jiang)為您提供高分辨率和對(dui)(dui)比度。
如(ru)何成功地(di)將這些(xie)技術應(ying)用(yong)于日常檢查工作，而無需浸油或轉移到(dao)SEM。
了(le)解這(zhe)些方(fang)法的組(zu)合如何幫助您提高檢(jian)查性能。
掃碼觀看點播
電話
微信掃一掃
當前位置：
地址：上海市長寧區福泉北路518號2座5樓
郵箱：lmscn.customers@leica-microsystems.com
傳真：