顯微組織形貌的檢測在材料科學(xue)(xue)和失(shi)效分(fen)析中起著決(jue)定性的(de)作用。在光學(xue)(xue)顯微鏡中有許多可能使(shi)材料的(de)真實結構可視化。本文中顯示的圖像示例演示了使用的這些技術的信息及潛力。

第一步通常需要制作一個經過拋光的金相試樣。但是，真正的微觀(guan)結構(gou)制備，只能在(zai)試樣表面潔(jie)凈且無形變的情況下方可完成。試樣制作(zuo)后，通(tong)常(chang)需要立刻放入酸性、堿性溶液或鹽溶液中進(jin)行腐(fu)蝕(shi)，以獲得微觀(guan)結構(gou)。這會腐(fu)蝕(shi)晶(jing)界或使晶(jing)粒變粗糙(cao)，而(er)導致相界在(zai)明場變暗。

如果上述(shu)技(ji)術手段不足以完(wan)成全部檢(jian)測，腐蝕(shi)結果無(wu)法滿足標準要求，或(huo)者材料具有耐腐蝕(shi)性，那么，還可以使用著色腐蝕或其他光鏡技(ji)術手段，例如(ru)，偏光、暗場(chang)或微分相襯等(deng)觀察方法。通常(chang)情況(kuang)下，將著色(se)腐蝕和光學(xue)相(xiang)襯這(zhe)兩種觀察方法(fa)結合(he)使用，能夠獲得(de)最佳檢測(ce)結果(guo)。針對銅合(he)金試樣的相(xiang)同細節圖片(pian)展示(shi)不同種類的成像(xiang)技術（圖 1-6）。

圖 4–6（從左到右）：偏光中銅(tong)合金的面心(xin)立方晶格以及不(bu)同(tong)角度的圖像。

圖 7 - 12 顯示了對比不同材料微觀結構組成的不同方式。此處采用的著色腐蝕技術，會在晶粒或混合晶體區域上產生厚度不同的硫酸層。

該橫(heng)截面將(jiang)在(zai) Klemm (K) 或 Beraha (B) 腐蝕(shi)劑(ji)中(zhong)予以(yi)腐蝕(shi)，所述腐蝕(shi)劑(ji)是基于(yu)(yu)亞硫(liu)酸鉀的(de)著(zhu)色侵蝕(shi)劑(ji)。Günter Petzow 和(he) Veronika Carle 于(yu)(yu) 2006 年通過 Borntraeger 出版的(de)“Metallographisches, keramographisches, plastographisches ?tzen"一(yi)書中(zhong)給(gei)出了(le)上述組分。在(zai)圖(tu)(tu) 7 和(he) 8 中(zhong)，鋼的(de)鐵(tie)素體已經著(zhu)色，同時(shi)，碳化鐵(tie)仍保持白色，以(yi)獲(huo)得碳化物(wu)沉淀的(de)清(qing)晰對比度。圖(tu)(tu) 9 和(he) 10 展示(shi)(shi)了(le)奧氏體鋼的(de)焊接層。圖(tu)(tu)像不僅突出了(le)鑄態(tai)組織，還(huan)突出了(le)偏析(xi)和(he)高(gao)熱影響區。圖(tu)(tu) 11 還(huan)顯(xian)示(shi)(shi)了(le)由(you)于(yu)(yu)初熔造(zao)成的(de)錫青銅(tong)試樣出現偏析(xi)的(de)現象。圖(tu)(tu) 12 很好地(di)展示(shi)(shi)了(le)多大程度的(de)腐蝕(shi)才(cai)能使(shi)亞晶(jing)粒結構清(qing)晰可見。

圖 7–9（從左到右(you)）：不同晶粒(li)或混合(he)晶體區域的著(zhu)色腐蝕以及不同厚度的硫酸(suan)層

圖 13–15（從左到右）：帶/不(bu)帶著色腐蝕的偏光